مشخصه یابی دستگاه های فوتونیکی با میکروسکوپ الکترونی عبوری

به لطف پیشرفت های اخیر در اپتیک الکترونی، نسل جدیدی از میکروسکوپ های الکترونی عبوری (TEM) ساخته شده است که قادر به دستیابی به رزولوشن تصویربرداری بهتر از 0.1 نانومتر و رزولوشن اسپکتروسکوپیک بهتر از 0.4 الکترون ولت هستند. این میکروسکوپ ها می توانند در آزمایشگاه های تجربی نانومواد دارای کاربردهای فراوانی باشند.

در این وبینار Eric Stach در مورد روش های استفاده از میکروسکوپ TEM جهت تصویربرداری از ساختارهای فوتونیکی در ابعاد آنگستروم تا میکرون توضیح خواهد داد. او همچنین در مورد چگونگی استفاده از پدیده پراش جهت مشخصه یابی ساختارهای کریستالی و چگونگی استفاده از اسپکتروسکوپی شیمیایی جهت تعیین ساختارهای الکترونی در ساختار نانو بحث خواهد کرد. 

Stach گروه میکروسکوپ الکترونی Center for Functional Nanomaterials  را هدایت می کند. تحقیقات او بر روی گسترش کاربردهای تکنیک میکروسکوپی الکترونی جهت حل مسائل علم مواد در نانوساختارها، کاتالیزها، رشد لایه های نازک و تغییر شکل مواد متمرکز است.