وبینارهای تخصصی اپتیک، لیزر و فوتونیک

مشخصه یابی دستگاه های فوتونیکی با میکروسکوپ الکترونی عبوری

به لطف پیشرفت های اخیر در اپتیک الکترونی، نسل جدیدی از میکروسکوپ های الکترونی عبوری (TEM) ساخته شده است که قادر به دستیابی به رزولوشن تصویربرداری بهتر از 0.1 نانومتر و رزولوشن اسپکتروسکوپیک بهتر از 0.4 الکترون ولت هستند. این میکروسکوپ ها می توانند در آزمایشگاه های تجربی نانومواد دارای کاربردهای فراوانی باشند.

در این وبینار Eric Stach در مورد روش های استفاده از میکروسکوپ TEM جهت تصویربرداری از ساختارهای فوتونیکی در ابعاد آنگستروم تا میکرون توضیح خواهد داد. او همچنین در مورد چگونگی استفاده از پدیده پراش جهت مشخصه یابی ساختارهای کریستالی و چگونگی استفاده از اسپکتروسکوپی شیمیایی جهت تعیین ساختارهای الکرونی در ساختار نانو بحث خواهد کرد. 

مشاهده وبینار

 

سیلیکون فوتومولتی پلایر: نظریه و کاربردها

سیلیکون فوتومولتی پلایرها (SiPM) یا شمارنده های فوتون چند پیکسلی در حال تبدیل به انتخابی محبوب جهت آشکارسازی تک فوتون ها است. قابلیت این فوتومولتی پلایر در آشکارسازی تک فوتون ها ناشی از بهره داخلی بالای آن ها (1 تا 10 میلیون برابر) است. در این وبینار تئوری و روش عملکرد این فوتومولتی پلایرها و همچنین مشخصات اپتوالکترونیکی کلیدی آن ها مورد بررسی قرار می گیرد.

ارائه دهنده این وبینار، Slawomir S. Piatek، استاد ارشد فیزیک در New Jersey Institute of Technology است و نقش وی اندازه گیری حرکت نسبی کهکشان های نزدیک هم با استفاده از تصاویر بدست آمده از تلسکوپ هابل است. همچنین او در شرکت هاماماتسو (Hamamatsu) بر روی سیلیکون فوتومولتی پلایر ها آزمایش انجام می دهد و مقالاتی در این رابطه نگاشته است. 

 

مشاهده وبینار